El microscopio confocal de escaneo láser FLUOVIEW FV4000 brinda imágenes de mayor precisión con el fin de otorgar a los investigadores datos más fiables a partir de sus muestras. Gracias a nuestro innovador detector SilVIR™, como núcleo del sistema, saque provecho de un nivel de ruido mucho más bajo, de una mayor sensibilidad y de capacidades mejoradas para la resolución de fotones. Hemos dialogado con nuestros líderes de diseño y desarrollo de productos Evident para obtener más información sobre cómo concibieron la revolucionaria tecnología del detector y las optimizaciones de rendimiento. |
Shohei ImamuraGerente, Estrategia de producto Como gerente del equipo de gestión estratégica de productos, Shohei supervisa el planteamiento de las estrategias y la planificación de los productos en nuestra empresa Evident. Trabaja con los departamentos de I+D, fabricación, marketing (mercadotenia) y supervisa otras funciones a fin de cumplir con los requisitos de nuestros productos. |
P: ¿Cuáles son las principales ventajas que experimentan los investigadores con el microscopio FLUOVIEW FV4000?
Shohei: Una característica clave del microscopio FV4000 es el nuevo detector SilVIR. Este último, que hace uso de la tecnología patentada de Evident1, favorece una captura de imágenes más rápida y de mayor calidad. Permite obtener imágenes sorprendentes de alta calidad con un nivel de ruido extremadamente bajo. Asimismo, mediante una reducción del tiempo de adquisición de casi el quíntuple con respecto al modelo anterior, el detector potencia significativamente la eficiencia de su trabajo.2 Además, el microscopio FV4000 facilita comparaciones cuantitativas fluidas con datos adquiridos previamente, lo que resuelve los desafíos de los clientes y agrega un valor sustancial.
1N.º de patente: US11237047.
2Comparación con el sistema FV3000 dotado del detector PMT GaAsP.
Esta figura muestra un ejemplo de una fluorescencia bastante tenue, capturada con un detector (a) SilVIR y un detector (b) PMT GaAsP a 700 V. La misma muestra fue excitada usando la misma potencia del láser. La intensidad máxima de fluorescencia es de casi 12 fotones/2 µs. El histograma de peine asociado a la intensidad de la imagen, capturada con el detector SilVIR, indica el número de fotones que fueron detectados con precisión. Se observó más ruido en el fondo de la imagen adquirida con el detector PMT GaAsP.
- Escáner: escáner galvanométrico, 2 µs/píxel
- Excitación: láser de 488 nm
- Emisión: de 500 a 540 nm
- Microtúbulos (Alexa Fluor 488) de células PtK2
Akinori: Se ha conseguido un rendimiento y una funcionalidad [del microscopio] altamente optimizados. Nos comprometimos a crear una interfaz simple y fácil de usar. Tras profundos y reiterados intercambios entre los equipos de I+D, marketing y gestión estratégica, logramos alcanzar un nivel de funcionalidad que mejora enormemente la eficiencia del trabajo. Este logro llega a través de una simplificación a nivel de la configuración de los parámetros del detector y una fácil determinación en todos los aspectos.
Interfaz de software para la configuración del detector en el microscopio confocal de escaneo láser FV4000
Shohei: La cima no se alcanza únicamente por una excelencia técnica o especificaciones detalladas. Se alcanza cuando el sistema proporciona valor sin concesiones en áreas donde los clientes han cedido en el pasado o en las que sus necesidades no pudieron satisfacerse sin renuncias mientras se usaba el producto. Creemos que este valor es clave y la característica más interesante del microscopio confocal de escaneo láser FV4000.
P: ¿Cuáles fueron los aspectos más desafiantes durante el desarrollo?
Akinori: El punto crucial del desarrollo es que, con este cambio de detector, hemos rediseñado completamente todo el sistema. No se exagera al decir que hemos reemplazado los productos de la serie FLUOVIEW anterior (los microscopios FV3000 y FVMPE-RS) por un sistema FLUOVIEW completamente nuevo con un nuevo procesador de imágenes. El obstáculo a este cambio era la limitación técnica de los métodos anteriores, principalmente debido a aspectos eléctricos, comunicación y muestreo de datos. Era difícil abrirse a un mundo de innovación usando dichos métodos convencionales. Por consiguiente, se rediseñó el sistema desde los elementos más básicos y reemplazamos el sistema FLUOVIEW con un nuevo procesador de imágenes. Gracias a ello, fue posible incorporar el detector SilVIR, y ahora seguimos mejorando la tecnología de alta velocidad y amplio campo de visión para el futuro basada en un procesador de imágenes completamente nuevo.
Hiromi: Fue una decisión emprendedora y, al mismo tiempo, desafiante reemplazar la tecnología de detección que habíamos estado utilizando en nuestros sistemas microscópicos confocales de escaneo láser por los últimos 30 años. En la fase temprana del desarrollo, se discutieron los detalles con los equipos regionales de ventas y mercadotecnia para asegurarnos de que el nuevo detector cumpliera con los requisitos de nuestros clientes.
Visualice el microscopio confocal y el detector en acción
¿Listo para probar las capacidades del detector SilVIR en su investigación? Ofrecemos demostraciones de equipamiento en directo y servicios de consulta adaptados a las necesidades de su aplicación. También, puede encontrar información técnica detallada en nuestro informe técnico sobre la tecnología del detector SilVIR.
No dude en contactarnos si tiene alguna pregunta con respecto a la selección de un sistema de procesamiento de imágenes o a un proceso de instalación. Para obtener más información sobre todas las características del producto y estativos del microscopio, visite nuestra página web del producto FV4000.
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