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Fluorescence Microscopy

섹션 개요:

형광 조명과 관찰을 사용하는 형광 현미경 검사는 오늘날 채용하는 의학 및 생명과학 현미경 검사 기술 중에서 가장 빠르게 확장하고 있습니다. 형광 현미경 검사의 보급으로 인해 더욱 정교한 현미경과 많은 형광 액세서리가 개발되었습니다. 형광현미경 또는 입사광 형광은 이제 많은 응용 사례에서 선택하는 방법이 되었고, 이 자습서의 대부분을 구성합니다. 우리는 정리 및 다운로드를 더 쉽게 하기 위해 자습서의 형광 현미경 검사 섹션을 여러 범주로 구분했습니다. 형광 현미경 검사와 관련하여 관심 있는 지점으로 이동하려면 아래 링크를 클릭하세요.

검토 게시물

  • 형광 현미경 검사 소개

    물리학적, 기계적 또는 화학적 메커니즘에 의해 생성된 전자 여기 상태에서 민감한 분자가 빛을 방사하는 유비쿼터스 발광 계열 프로세스의 일종인 형광의 기본 개념에 대해 알아보십시오.

  • 형광 현미경

    복굴절과 같이 거시적인 표본 특징에 기초한 여타 광학 현미경 검사 방식과 달리, 형광 현미경 검사는 형광 방사 특성에만 기초하여 단일 분자 표본의 분포를 이미징할 수 있습니다.

  • 광원

    충분한 여기 광 강도를 생성하여 검출할 수 있는 2차 형광 방사를 제공하려면 LED, 수은 및 제논 아크(버너) 램프와 같은 강력한 광원이 필요합니다.

  • 최적화 및 문제 해결

    이 게시물에서는 배경에 비해 희미하게 보이거나 매우 밝게 보일 수 있는 형광 물체를 검출하는 것과 같은 형광 현미경 검사의 주요 기능을 검토합니다.

  • 이미징 검출기

    광 검출의 기본을 이해하도록 돕고 형광 현미경 검사에서 특정 응용 사례에 적합한 검출기 선택 지침을 제공하기 위해 수록된 해설입니다.

  • 형광단 소개

    광시야 형광 및 레이저 스캐닝 공초점 현미경 검사는 기술적으로 높은 수준의 감도에 주로 기인하는 2차 형광 방사를 이미징 모드로 사용합니다.

  • 광학 하이라이터 형광 단백질

    광학 하이라이터는 일반적으로 이미징 파장에서 여기 상태의 초기 형광을 거의 표시하지 않지만 다른 파장에서 조사를 통해 활성화된 후에는 형광 강도를 높입니다.

  • 형광 현미경 검사 오류

    형광 조명 조건에서 현미경 사진을 촬영할 때 고유한 상황이 일어나 현미경 검사자에게 특별한 문제가 되는 과정에 대해 자세히 읽어보십시오.

  • 형광 필터 조합의 실용적 측면

    오늘날 사용되는 일반적인 형광단을 대부분 이미징 가능한 필터 세트의 생산처인 대부분의 주요 제조업체에서는 이제 필터 큐브의 넓은 스펙트럼을 사용할 수 있습니다.

  • 형광 및 공초점 현미경 검사 용어집

    형광 및 레이저 스캐닝 공초점 현미경 검사에 특화된 다양한 주제에 입문한 대상자들을 위한 지침 및 참조 도구로 수록한 자료입니다.

고급 형광 현미경 검사 기술

  • 공초점 현미경 검사 소개

    공초점 현미경 검사로 피사체의 심도를 조절하고 초점면에서 배경 정보를 제거하거나 크게 줄이고 두꺼운 표본에서 연속 광학 절편을 수집할 수 있습니다.

  • 다광자 여기 현미경 검사

    다광자 형광 현미경 검사는 레이저 스캐닝 현미경 검사 기법과 장파장 다광자 형광 여기를 결합하여 표본의 고해상도 3D 이미지를 촬영하는 강력한 도구입니다.

  • 형광 공명 에너지 전달(FRET)

    형광 공명 에너지 전달(FRET) 기술이 광학 현미경 검사에 적용되면 두 분자 간 접근이 몇 나노미터 내에서 결정될 수 있습니다.

  • 전반사 형광 현미경 검사

    전반사 형광 현미경 검사(TIRFM)는 세포 및 분자 생물학에서 넓은 스펙트럼이 원리가 기본적으로 중요한 영역인 표면과 분자 상호작용 검사에 일반적으로 사용됩니다.

  • 광학 현미경 검사용 레이저 시스템

    광학 현미경 검사에 사용되는 레이저는 고감도 단색광원으로, 광학 탐측, 수명시간 이미징 연구 및 광표백 회복 등 많은 기술에 유용합니다.

  • 형광 및 DIC 결합 현미경 검사

    형광 현미경 검사는 차등 간섭 대비(DIC) 조명과 같은 대비 향상 기술과 결합할 수 있으며, DIC를 사용하여 표본의 특정 관심 영역을 지정하면 광표백 효과가 최소화됩니다.

  • 형광 및 위상차 결합 현미경 검사

    광표백을 최소화하기 위해 형광 현미경 검사를 위상차 조명과 결합할 수 있습니다. 이 개념은 기술(위상)을 사용하여 표본의 특정 관심 영역을 지정한 다음 표본을 재지정하지 않고 현미경을 형광 모드로 전환하기 위한 것입니다.

  • 형광 현미경 검사 디지털 이미지 갤러리

    이 갤러리의 특징적인 표본에는 특정 형광 염료 및 자가형광을 사용하는 다양한 사례가 포함되어 있습니다. 이미지는 Fujichrome Provia 35mm 투명 필름을 사용하는 디지털카메라 시스템 또는 고전적인 현미경 사진술로 촬영되었습니다.

형광 현미경의 구조

  • Olympus 정립 현미경

    필터 큐브 터렛과 형광 여기 광원을 포함하는 수직 조명이 장착된 Olympus 정립 표면 형광 현미경에 대해 알아보십시오.

  • Olympus 도립 현미경

    도립식 프레임이 적용된 현미경(Olympus IX70 도립 현미경)은 조직 배양용으로 설계되었으며 반사 및 광학 경로를 통해 형광 조명을 생성할 수 있습니다.

대화식 자바 자습서

  • 형광 현미경 광 경로

    정립 현미경의 조명 경로를 탐색합니다. 자습서에 제시된 현미경 그림은 Olympus 정립 현미경의 단면 도표를 나타냅니다.

  • 도립 현미경 광 경로

    투영식(텅스텐-할로겐) 및 표면 형광(수은 아크) 조명이 모두 장착된 도립 조직 배양 현미경을 통해 광 경로를 탐색합니다.

선택된 참조 문헌

  • 선택된 참조 문헌

    형광 현미경 검사 분야는 특히 발색단 및 형광단 기술의 발전과 결합했을 때의 공초점, 다광자, 디컨볼루션 및 전반사와 같은 신기술의 도입으로 부흥기에 있습니다. 아래의 참조 자료는 분자 발현 현미경 자습서형광 섹션 구성에 사용되었습니다.

관련 Olympus 제품:

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